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1. Aberration correction for hard x-ray focusing at the nanoscale

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Focusing hard x rays beyond the critical angle of total reflection by adiabatically focusing lenses

   1. Patommel, J.
   2. Klare, S.
   3. Hoppe, R.
   4. Ritter, S.
   5. Samberg, D.
   6. Wittwer, F.
   7. Jahn, A.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. PtyNAMi: Ptychographic nano-analytical microscope at PETRA III - Interferometrically tracking positions for 3D x-ray scanning microscopy using a ball-lens retroreflector

   1. Schroer, Christian Gustav
   2. Seyrich, M.
   3. Kahnt, M.
   4. Botta, S.
   5. Döhrmann, R.
   6. Falkenberg, G.
   7. Garrevoet, J.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Perfect X-ray focusing via fitting corrective glasses to aberrated optics

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
5. Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics

   1. Seiboth, F.
   2. Kahnt, M.
   3. Scholz, M.
   4. Seyrich, M.
   5. Wittwer, F.
   6. Garrevoet, J.
   7. Falkenberg, G.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
6. Hard x-ray nanofocusing by refractive lenses of constant thickness

   1. Seiboth, F.
   2. Scholz, M.
   3. Patommel, J.
   4. Hoppe, R.
   5. Wittwer, F.
   6. Reinhardt, J.
   7. Seidel, J.

   2014 - Forschungsinformationssystem der UHH