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1. Perfect X-ray focusing via fitting corrective glasses to aberrated optics

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Aberration correction for hard x-ray focusing at the nanoscale

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics

   1. Seiboth, F.
   2. Kahnt, M.
   3. Scholz, M.
   4. Seyrich, M.
   5. Wittwer, F.
   6. Garrevoet, J.
   7. Falkenberg, G.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Hard x-ray nanofocusing by refractive lenses of constant thickness

   1. Seiboth, F.
   2. Scholz, M.
   3. Patommel, J.
   4. Hoppe, R.
   5. Wittwer, F.
   6. Reinhardt, J.
   7. Seidel, J.

   2014 - Forschungsinformationssystem der UHH