Autor/in Bittner, Achim 1 Kölpin, Alexander 1 Rittweg, Thomas Schmid, Ulrich 1 Schwanke, Dieter 1 Steinhäußer, Frank 1 Talai, Armin 1 Weigel, Robert 1 alle zeigenListe einklappen
Embedded cavity based dielectric loss measurements for LTCC substrates up to 110 GHz Talai, Armin Steinhäußer, Frank Bittner, Achim Schmid, Ulrich Weigel, Robert Schwanke, Dieter Rittweg, Thomas 2016 - TUHH Open Research
