12 Einträge gefunden

1. Design of the AGIPD sensor for the European XFEL

   1. Schwandt, Jörn
   2. Fretwurst, E.
   3. Klanner, Robert
   4. Poehlsen, T.
   5. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Radiation damage in n-type silicon diodes after electron irradiation with energies between 1.5 MeV and 15 MeV

   1. Radu, R.
   2. Fretwurst, E.
   3. Klanner, Robert
   4. Lindstroem, G.
   5. Pintilie, I.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Study of the accumulation layer and charge losses at the Si-SiO2 interface in p+n-silicon strip sensors

   1. Poehlsen, T.
   2. Becker, J.
   3. Fretwurst, E.
   4. Klanner, Robert
   5. Schwandt, Jörn
   6. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors

   1. Klanner, Robert
   2. Fretwurst, E.
   3. Pintilie, I.
   4. Schwandt, Jörn
   5. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
5. High speed cameras for X-rays: AGIPD and others

   1. Becker, J.
   2. Bianco, L.
   3. Dinapoli, R.
   4. Göttlicher, P.
   5. Graafsma, H.
   6. Greiffenberg, D.
   7. Gronewald, M.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
6. Design of the AGIPD sensor for the European XFEL

   1. Schwandt, Jörn
   2. Fretwurst, E.
   3. Klanner, Robert
   4. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
7. Charge losses in segmented silicon sensors at the Si-SiO2 interface

   1. Poehlsen, T.
   2. Fretwurst, E.
   3. Klanner, Robert
   4. Schuwalow, Sergej
   5. Schwandt, Jörn
   6. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
8. Time dependence of charge losses at the Si-SiO2 interface in p +n-silicon strip sensors

   1. Poehlsen, T.
   2. Fretwurst, E.
   3. Klanner, Robert
   4. Schwandt, Jörn
   5. Zhang, J.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
9. Optimization of the noise performance of the AGIPD prototype chips

   1. Greiffenberg, D.
   2. Becker, J.
   3. Bianco, L.
   4. Dinapoli, R.
   5. Goettlicher, P.
   6. Graafsma, H.
   7. Hirsemann, H.

   2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
10. Design and first tests of a radiation-hard pixel sensor for the European X-ray free-electron laser

    1. Schwandt, Jörn
    2. Fretwurst, E.
    3. Klanner, Robert
    4. Kopsalis, I.
    5. Zhang, J.

    2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
11. Challenges for silicon pixel sensors at the European XFEL

    1. Klanner, Robert
    2. Becker, J.
    3. Fretwurst, E.
    4. Pintilie, I.
    5. Pöhlsen, T.
    6. Schwandt, Jörn
    7. Zhang, J.

    2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
12. Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors

    1. Schwandt, Jörn
    2. Fretwurst, E.
    3. Klanner, Robert
    4. Pintilie, I.
    5. Zhang, J.

    2013 - Forschungsinformationssystem der UHH