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Autor/in
- Hafkemeyer, Kristian M.
- Krautschneider, Wolfgang 4
- Galjan, Wjatscheslaw 3
- Schröder, Dietmar 3
- Tomasik, Jakob M. 3
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Sprache
- Englisch 4
4 Einträge gefunden
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Simultaneous large-scale reliability analysis of ultra-thin MOS gate dielectrics using an automated test system
2008 - TUHH Open Research - frei zugänglich