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- Falta, J. 1
- Foede, A.
- Hansen, W. 1
- Heyn, Ch. 1
- Materlik, G 1
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Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
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X-ray interface characterization of buried InAs layers on GaAs (001)
1999 - Forschungsinformationssystem der UHH