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1. Aberration correction for hard x-ray focusing at the nanoscale

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Perfect X-ray focusing via fitting corrective glasses to aberrated optics

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. PtyNAMi: Ptychographic nano-analytical microscope at PETRA III - Interferometrically tracking positions for 3D x-ray scanning microscopy using a ball-lens retroreflector

   1. Schroer, Christian Gustav
   2. Seyrich, M.
   3. Kahnt, M.
   4. Botta, S.
   5. Döhrmann, R.
   6. Falkenberg, G.
   7. Garrevoet, J.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics

   1. Seiboth, F.
   2. Kahnt, M.
   3. Scholz, M.
   4. Seyrich, M.
   5. Wittwer, F.
   6. Garrevoet, J.
   7. Falkenberg, G.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH