Autor/in Adam, W. 1 Beaumont, W. 1 Bergauer, T. 1 Friedl, M. 1 Fruehwirth, R. 1 Hrubec, J. 1 Krammer, M. Pernlcka, M. 1 Waltenberger, W. 1 de Langhe, E. 1 de Wolf, E. 1 alle zeigenListe einklappen
The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker Adam, W. Bergauer, T. Friedl, M. Fruehwirth, R. Hrubec, J. Krammer, M. Pernlcka, M. 2005 - Forschungsinformationssystem der UHH