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1. Analysis of electrical breakdown failures bymeans of SFM-basedmethods

   1. Born, A.
   2. Olbrich, A.
   3. Maywald, M.
   4. Wiesendanger, Roland

   1998 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Scanning capacitancemicroscope as a tool for the characterization of integrated circuits

   1. Born, A.
   2. Wiesendanger, R.

   1998 - Forschungsinformationssystem der UHH