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Autor/in
- Nielsch, Kornelius
- Völklein, F.
- Linseis, V. 2
- Reith, H. 2
- Woias, P. 2
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Sprache
- Englisch 3
3 Einträge gefunden
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Platform for in-plane ZT measurement and Hall coefficient determination of thin films in a temperature range from 120 K up to 450 K
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