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- Avouris, Phaedon
- Bhushan, Bharat 1
- Kaupp, Gerd 1
- Sakaki, Hiroyuki 1
- Von Klitzing, Klaus 1
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Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
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Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: Application to rough and natural surfaces
- Kaupp, Gerd
- Avouris, Phaedon
- Bhushan, Bharat
- Von Klitzing, Klaus
- Sakaki, Hiroyuki
- Wiesendanger, Roland