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- Text 3
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Autor/in
- Hansen, W.
- Heyn, Ch. 2
- Bargstädt-Franke, S. 1
- Falta, J. 1
- Foede, A. 1
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Sprache
- Englisch 3
3 Einträge gefunden
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X-ray interface characterization of buried InAs layers on GaAs (001)
1999 - Forschungsinformationssystem der UHH