Autor/in Fabretti, Savio 1 Nielsch, Kornelius 1 Pertzki, Patrick 1 Ronning, Carsten 1 Seibt, Michael 1 Thomas, Andy 1 Voigt, Carmen Zierold, Robert 1 alle zeigenListe einklappen
Temperature and bias voltage dependence of atomic layer deposited HfO2 based magnetic tunnel junctions Fabretti, Savio Zierold, Robert Voigt, Carmen Pertzki, Patrick Ronning, Carsten Seibt, Michael Nielsch, Kornelius 2014 - Forschungsinformationssystem der UHH
